Marke | ElektroPhysik |
Produkt | P/N: 80-0A2-1101, Type: N0.8 Cr Probe |
Beschreibung | Sonde zur Messung |
Interner Code | IMP4426429 |
Technische Spezifikation | von Chrom auf Kupfer Messbereich 0 - 80 μm Richtigkeit: ± (1-3 % vom Messwert + 1 μm) |
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Sonde
Messbereich: 0 - 10 mm Genauigkeit: ± (1 - 3% der Anzeige + 25 Mikrometer)
Ladegerät mit NiMH-Akku 8,4 V/200mAh
Schichtdickenmessgerät mit externem SIDSP®-Sensor
Artikel 80-124-0001 (MiniTest 650 F 3)
Schichtdickenmessgerät MiniTest 650 F 3
P/N: 80-136-0900, Type: MiniTest 725
Elektronisches Schichtdickenmessgerät
Elektronisches Schichtdickenmessgerät
Schichtdickenmessgerät
Sensor F15
Sonde
Schichtdickenmeßgerät
Mikroprozessor Schichtdickenmessgerät
P/N: 80-177-0300, Type: MiniTest 7200 FH
Dickenmessgerät für unmagnetische Werkstoffe
Sonde
80-137-3400(Minitest 735 FN1.5 HD SIDSP)
Schichtdickenmessgerät mit externem Sensor
Ultraschallmeßgerät